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JEOL:推出新型电子探针显微分析仪JXA-iHP200F和JXA-iSP100
来源:文传商讯  时间:2019-11-14 19:18:34

- 集成式EPMA的演进 -

东京--(美国商业资讯)--日本电子株式会社(JEOL Ltd., TOKYO:6951)(总裁兼首席运营官:Izumi Oi)宣布于2019年11月推出新型肖特基式(Schottky)场发射电子探针显微分析仪JXA-iHP200F和新型钨/ LaB6电子探针显微分析仪JXA-iSP100。

本新闻稿包含多媒体。此处查看新闻稿全文: https://www.businesswire.com/news/home/20191113005987/zh-CN/

产品开发背景

在钢、汽车、电子零件和电池材料等广泛工业领域中,电子探针显微分析仪(EPMA)用作研发和质量控制工具。此外,在学术领域,EPMA应用于地球与行星科学和材料科学,不仅涵盖矿物能源研究,而且涉及新型材料研究,从而为各种尖端研究做出贡献。随着EPMA应用的增加,EPMA用户需要具有高可操作性的简单快速的分析,同时也要在特定感兴趣区域保持高质量的痕量元素分析性能。

为满足这些需求,从观察(光学和SEM图像)到分析,JXA-iHP200F和JXA-iSP100均支持与波长色散X射线光谱仪(WDS)、能量色散X射线光谱仪(EDS)、阴极发光(CL)及其他技术的无缝集成。

主要特性

集成EPMA可实现简单快速的操作

  1. 高通量
    任何人都能以高精度执行从试样送入到分析区域确定的无缝操作。
  2. 高准确度分析
    集成式EPMA系统让任何人都能够以更高的准确度和精确度以及更快的功能,更快、更轻松地获取分析数据。
  3. 易于维护
    由于仅在需要时才自动执行维护,因此每个人都可以将EPMA系统维持在最佳状态。

JXA-iHP200F和JXA-iSP100均具有高度可扩展性。其不仅可用于WDS和EDS系统,而且可结合软X射线发射分光仪(SXES)进行化学状态分析,结合电子背散射衍射系统(EBSD)进行晶体取向分析,以及整合阴极发光检测器(CL)用于广泛应用中的多样化分析。

备注:EPMA是“电子探针显微分析仪”(Electron Probe Microanalyzer)的缩写。

年度单位销售目标
70套/年

日本电子株式会社
3-1-2, Musashino, Akishima, Tokyo, 196-8558, Japan
Izumi Oi,总裁兼首席运营官
(股票代码:6951,东京证券交易所第一部)
www.jeol.com

免责声明:本公告之原文版本乃官方授权版本。译文仅供方便了解之用,烦请参照原文,原文版本乃唯一具法律效力之版本。

在 businesswire.com 上查看源版本新闻稿: https://www.businesswire.com/news/home/20191113005987/zh-CN/

CONTACT:

日本电子株式会社
科学与测量仪器销售部
Yusuke Harano
+81-3-6262-3567
https://www.jeol.co.jp/en/support/support_system/contact_products.html

JXA-iHP200F (Photo: Business Wire)

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